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SZ902纳米粒度分析仪产品介绍：
SZ902纳米粒度分析仪是继在SZ901系列后推出的全新一款高性能动态光散射纳米粒度仪产品，加持了新研发的全自动聚焦技术，实现了对纳米样品的多角度测量，无需稀释即可对不同浓度纳米样品的粒度及Zeta电位快速测量，十分适合各种有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等多种样品的粒度及Zeta电位研究级分析测试。
主要特点：
◆包含经典90°、背向和前向动态光散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm–15μm
◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析，可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性
◆加持自动恒温技术的最高功率可达50mW,波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用
◆余弦拟合相位分析法（CF-PALS）优于目前的频谱分析法（FFT）和传统的位相分析法（PALS）
◆激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术
◆信号光与参考光的光纤合束及干涉技术
◆集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器
◆常规温度控制范围可达-15°C~120°C,精度±0.1°C
◆新一代高速数字相关器，动态范围大于1011
◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术
产品性能：
测量原理 | 动态光散射（DLS）、静态光散射（SLS）、电泳光散射（ELS） |
粒径测量角度 | 90°,173°（高浓度），12°（Zeta电位） |
粒径测量范围 | 0.3nm -15um* |
粒径测量最小样品量 | 3ul* |
粒径测量最小样品浓度 | 0.1mg/ml |
粒径测量最大样品浓度 | 40%/wv |
检测点位置 | 距入射点0~5mm可调 |
检测点定位精度 | 0.01mm |
Zeta电位技术 | 余弦拟合位相分析法（CF-PALS） |
适用Zeta电位测量的粒径 | 任意范围，无明确限制 |
迁移率范围 | 1nm - 120μm* |
最大电导率 | 270mS/cm |
电导率准确度 | ±10% |
电极 | 插入式平板电极、U型毛细管电极 |
分子量范围 | 340Da - 2x107Da |
温度控制范围 | -15°C - 120°C |
温度控制精度 | ±0.1°C |
光源 | 集成恒温系统及光纤耦合的最大功率50mW, 波长638nm固体激光器 |
相关器 | 高速数字相关器，自适应通道配置 |
检测器 | 高灵敏度APD |
样品池 | 12mm比色皿、3μL毛细管超微量样品池、40μL微量样品池（多种可?。?/span> |
系统重量 | 16kg |
外形尺寸 | 365mm x 475mm x 180mm (LxWxH) |
注：* 取决于样品及样品池选件
